CKX53倒置顯微鏡使用防塵罩是保證顯微鏡處于良好機(jī)械和物理狀態(tài)的重要的因素。CKX53倒置顯微鏡的外殼如有污跡，能用乙醇或肥皂水來(lái)清潔=但切勿讓這些清洗液滲入顯微鏡內(nèi)部，造成顯微鏡內(nèi)部電子部件的短路或燒毀。
保持顯CKX53倒置顯微鏡使用場(chǎng)地的干燥，盡管每臺(tái)徠卡系列顯微鏡均采用了特殊的防霉處理工藝，但當(dāng)顯微鏡長(zhǎng)期工作在濕度較大的環(huán)境中，還是容易增加霉變的幾率，因此如顯微鏡不得不工作在這些濕度較大的環(huán)境中，建議使用除濕機(jī)。
另外，如發(fā)現(xiàn)光學(xué)元件表面有霧狀，霉斑等不良情況時(shí)，請(qǐng)立刻聯(lián)系徠卡專(zhuān)業(yè)人士，對(duì)您的顯微鏡進(jìn)行專(zhuān)業(yè)維護(hù)保養(yǎng)。
1、明視野法
觀察試樣直接反射光的方法。照明燈的光通過(guò)物鏡垂直導(dǎo)向而入射于試樣，來(lái)自試樣的直接反射光通過(guò)CKX53倒置顯微鏡物鏡即被觀察到。
2、暗視野法
觀察試樣干涉及衍射光的方法。照明光線通過(guò)物鏡外圍斜射于試樣，來(lái)自試樣的干涉及衍射光即被觀察到。
適用檢測(cè)試樣上微細(xì)的擦痕或裂痕、檢測(cè)晶片等試樣鏡狀表面。
3、微分干涉對(duì)比法
這是將用明視野法可能觀察不到的試樣高度微小差異通過(guò)改善對(duì)比法變?yōu)榱Ⅲw或三維圖像的顯微觀察技術(shù)。照明光由微分干涉對(duì)比棱鏡變?yōu)閮墒苌涔?。這兩束衍射光使試樣高度差異造成在光路上的微小差異，而光路差異變?yōu)槔梦⒎指缮鎸?duì)比棱鏡和檢偏振器的明暗對(duì)比。
再利用敏感色板，加強(qiáng)了高度差異的顏色變化。
適合檢測(cè)包括金相結(jié)構(gòu)、礦物、磁頭、硬磁盤(pán)表面和晶片精制表面等有極其微細(xì)高度差異的試樣。
4、偏振光法
這是使用由兩個(gè)一組的濾色鏡形成偏光的顯微觀察技術(shù)。這些偏光軸始終保持相互垂直。一些試樣在兩個(gè)濾色鏡之間呈鮮明的對(duì)比。或根據(jù)雙折射性能和定向呈現(xiàn)顏色。在檢偏振器插在目鏡前的觀察光路時(shí)，起偏振器位于垂直照明前面的光路。
適合觀察金相結(jié)構(gòu)，礦物和液晶(LCD)以及半導(dǎo)體材料。
5、熒光法
本技術(shù)用于發(fā)出熒光的試樣。
適合利用熒光法檢測(cè)晶片的污染，感光性樹(shù)脂的殘留物，以及檢測(cè)裂縫。
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更新時(shí)間：2018-12-20 
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